December 26, 2018
| ชื่องานวิจัยภาษาไทย |
แบบจำลองเชิงวิเคราะห์ความน่าจะเป็นของความแปรผันอันเนื่องมาจากกระบวนการผลิตของมอสเฟทในย่านวีคอินเวอร์ชั่น |
| ชื่องานวิจัยภาษาอังกฤษ |
Analytical Probabilistic Model of Manufacturing Process Induced Variation in Weak Inversion MOSFET |
| ชื่อผู้วิจัย |
ผศ. ดร. รวิศวร์ บานชื่น |
| สาขา | วิศวกรรมศาสตร์และอุตสาหกรรมวิจัย (วิศวกรรมศาสตร์) |
| ปีการศึกษา | 2558 |
| ลำดับที่ | เนื้อหา | ไฟล์ (PDF) |
| 1 | บทคัดย่อ Thai | 01.pdf |
| 2 | บทคัดย่อ English | |
| 3 | บทความวิจัย | 03.pdf |
Views: 37