Analytical Probabilistic Model of Manufacturing Process Induced Variation in Weak Inversion MOSFET

Last modified: December 26, 2018
You are here:
  • KB Home
  • Analytical Probabilistic Model of Manufacturing Process Induced Variation in Weak Inversion MOSFET
Estimated reading time: < 1 min
ชื่องานวิจัยภาษาไทย

แบบจำลองเชิงวิเคราะห์ความน่าจะเป็นของความแปรผันอันเนื่องมาจากกระบวนการผลิตของมอสเฟทในย่านวีคอินเวอร์ชั่น

ชื่องานวิจัยภาษาอังกฤษ

Analytical Probabilistic Model of Manufacturing Process Induced Variation in Weak Inversion MOSFET

ชื่อผู้วิจัย

ผศ. ดร. รวิศวร์ บานชื่น

สาขา วิศวกรรมศาสตร์และอุตสาหกรรมวิจัย (วิศวกรรมศาสตร์)
ปีการศึกษา 2558
ลำดับที่ เนื้อหา ไฟล์ (PDF)
1 บทคัดย่อ Thai 01.pdf
2 บทคัดย่อ English

02.pdf

3 บทความวิจัย 03.pdf 
Was this article helpful?
Dislike 0
Views: 19